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谷物降落數(shù)值測定儀適用于谷物如小麥、小麥粉等，是糧食儲藏、面粉加工等領(lǐng)域的質(zhì)量檢測儀器。

玉米表型檢測儀可一鍵檢測分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側(cè)視角緊湊度、側(cè)視角投影面積、玉米株高、莖稈節(jié)間距和基粗葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數(shù)。

小麥硬度指數(shù)測定儀是杭州科銘光電科技有限公司根據(jù)GB1354-2008《小麥》、GB/T21304-2007《小麥硬度測定 硬度指數(shù)法》等國家和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求研制。

小麥不完善率檢測儀連接專用掃描儀，掃描出小麥正反兩面的電子照片，通過軟件識別自動對檢測的小麥樣品進行計數(shù)分類計算，從而獲得整體小麥的分類品質(zhì)。

小麥不完善粒測定儀以小麥不完善粒作為測定對象,在自動獲取糧食圖像后，通過模式識別或深度學(xué)習(xí)等技術(shù)構(gòu)建神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)模型，實時分析糧食特征并計算出小麥不完善粒百分比。